Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем. Учебное пособие для вузов
-
Сейчас читают
-
Отложили
-
Прочитали
-
Не дочитали
Автор:
Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Предназначена в качестве учебного пособия для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.
- 1980 г.
Материалы
Отзывы
Раз в месяц дарим подарки самому активному читателю.Оставляйте больше отзывов, и мы наградим вас!
Цитаты
Вы можете первыми опубликовать цитату