Рентгенография металлов и полупроводников

Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской и гамма-дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма-лучей. Допущено Министерством высшего и среднего специального образования СССР в качестве учебного пособия для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов.